合肥工业大学计算机与信息学院导师:陈田

发布时间:2021-10-28 编辑:考研派小莉 推荐访问:
合肥工业大学计算机与信息学院导师:陈田

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合肥工业大学计算机与信息学院导师:陈田 正文

  
  姓名:陈田
  性别:男
  出生年月:
  职称:副教授
  学院:计算机与信息学院
  研究方向:
  低功耗嵌入式系统、VLSI设计与测试、嵌入式智能系统等 
  
  简历
  合肥工业大学计算机与信息学院副教授、博士、硕士生导师, 2002年合肥工业大学硕士毕业留校任教,工作期间获计算机应用专业博士学位。目前在合肥工业大学计算机与信息学院计算机系统结构研究所、情感计算与先进智能机器安徽省重点实验室从事科研和教学工作。主要研究方向为低功耗嵌入式系统、VLSI设计与测试、嵌入式智能系统等。
  近年来,参与完成了十多项国家级和省部级纵向科研项目,包括国家自然科学基金重点项目1项、国家自然科学基金重大研究计划项目1项、国家自然科学基金项目2项、973项目1项,863计划项目2项、教育部博士点基金项目2项、安徽省自然科学基金项目1项、安徽省海外人才基金项目1项,安徽省高等学校省级自然科学研究项目1项。主持承担了安徽省高校青年教师科研资助计划项目、中国科学院物质所ITER项目子课题、合肥工业大学科学研究发展基金项目、合肥工业大学博士专项科研资助基金项目等。发表论文20余篇,申请发明专利3项,其中1项已授权1项,2项已公开。参加的研究项目“系统芯片SoC自测试方法研究”在2009年获安徽省科学技术研究成果三等奖。目前是中国计算机学会会员,第六届中国测试学术会议(CTC’2010) 组织委员会主席,NLP-KE’2012秘书长。
  
  研究方向
  低功耗嵌入式系统、VLSI设计与测试、嵌入式智能系统等

  教学工作
  计算机组成原理、计算机系统结构  

  获奖情况
  安徽省科学技术研究成果三等奖;
  “博创杯”全国大学生嵌入式设计大赛全国一等奖指导教师;
  本科生毕业设计校级优秀论文指导教师;
  计算机与信息学院“2010年度学生评教个人优秀奖” 

  主要论著
  1. 陈田,梁华国, 王伟,易茂祥,黄正峰. 基于优化编码的LFSR重播种测试压缩方案[J] .计算机研究与发展. 2012,49(2):443-452.(EI)
  2. 李鑫,梁华国,陈田,王伟,易茂祥. 并行折叠计数器的BIST方案[J]. 电子学报,2012,已录用.
  3. 王伟,张欢,方芳,陈田,刘军,李欣,邹毅文. 2TF:一种协同考虑过硅通孔和热量的三维芯片布图规划算法[J].电子学报,2012,已录用.
  4. 陈田,梁华国,易茂祥,王伟,黄正峰,张敏生. 基于随机访问扫描的低功耗确定性测试方案[J]. 中国科学技术大学学报,2011,41(8):722-730.
  5. 李鑫,梁华国,陈田,王伟,易茂祥. 基于折叠计数器的低功耗BIST方案[J]. 仪器仪表学报, 2011, 32 (12):1-5.
  6. 王丽娟, 梁华国, 陈田, 王伟, 李扬. 基于位差码的测试数据压缩方案[J]. 仪器仪表学报(增), 2011,32(06): 61-65.
  7. 邹毅文, 梁华国, 王伟, 陈田, 张欢. 硅通孔数目敏感的三维电路划分[J]. 仪器仪表学报(增), 2011,32(06): 15-19.(EI)
  8. 陈田,梁华国,张敏生,王伟,易茂祥. 应用段固定折叠计数器的低功耗测试方案[J]. 应用科学学报,2010,28(4):399-405. (EI)
  9. 陈田,梁华国, 王伟,易茂祥,黄正峰. 基于LFSR重播种的低功耗测试压缩方案. 第6届中国测试学术会议, 2010: 18-25.
  10. 杨年宏,王伟,岳学民,陈田. 一种热量敏感的3D SoC并行测试方法研究. 第6届中国测试学术会议, 2010:307-309.
  11. 顾婉玉,梁华国,徐三子,陈田,王伟. 一种基于响应中无关位填充的测试压缩方法. 第6届中国测试学术会议, 2010:83-86.
  12. 欧阳一鸣,刘娟,梁华国, 陈田. 一种基于选择触发的低功耗扫描链结构 [J]. 计算机工程与应用,2010,46(1): 57-60.
  13. 方芳,王伟,王杰,陈田,杨年宏. 低功耗测试研究进展 [J] . 合肥工业大学学报(自然科学版), 2009, 32(6): 699-773.
  14. Tian Chen, Hua-guo Liang, Min-sheng Zhang, Wei Wang, Mao-xiang Yi. A Low Power Test Scheme Based on Segment Fixing Folding Counter. Proc. 10th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT’09), Hong Kong, China, November 2009:168-173.
  15. 张敏生,梁华国,陈田. NoC 的低功耗快速测试. 哈尔滨工业大学学报. 2009,7, 41(1): 379-382.
  16. 黄正峰,梁华国,陈田,詹文法,孙科. 一种容软错误的BIST结构[J]. 计算机辅助设计与图形学学报, 2009, 21(1): 33-37. (EI)
  17. 易茂祥,梁华国,陈田. 基于最佳交换递减的芯核测试链平衡划分[J]. 电子测量与仪器学报, 2009,23(4): 97-102.
  18. Tian Chen, Huaguo Liang, Minsheng Zhang, Wei Wang. A Scheme of Test Pattern Generation Based on Reseeding of Segment-Fixing Counter. Proc. IEEE International Conference for Young Computer Scientists, 2008: 2272-  2277.(EI,ISTP)
  19. 梁华国; 祝沈财; 陈田; 张念. 基于RAS结构优化测试时间和数据量的测试方案[J] . 电子学报,2008, 36(12): 2418-2422. (EI)
  20. 黄正峰,梁华国,陈田,詹文法,孙科.一种容软错误的高可靠BIST结构[C], 第五届中国测试学术会议论文集,2008:358-361.
  21. 黄正峰,梁华国,欧阳一鸣,陈田.基于门控时钟的回卷自恢复FSM研究 [J].计算机辅助设计与图形学新进展(中国计算机学会文集),2006:506-511.
  授权及已公开的国家发明专利:
  1. 一种幂次数切分的LFSR重播种VLSI测试数据压缩方法,200910116316.6(已授权)
  2. 一种基于颜色立方先验的单一图像能见度复原方法,201110089210.9(已公开)
  3. 基于并行折叠计数器的重播种测试方案,201010570795.1(已公开)

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